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產品簡介
創新點:可工作于更短的時間常數(AmpTime)或更高的計數率而分辨率不下降
儀器更加小巧美觀
儀器可靠性進一步提升
儀器輕元素分辨率進一步提高。
GENESIS Apex 電制冷能譜儀是高性能能譜儀的代表，采用EDAX公司Apollo系列無液氮的硅漂移SDD探測器。
GENESIS APEX系列能譜儀秉承了EDAX公司GENESIS能譜儀指標高、性能好、壽命長，使用方便的特點，并更上一層樓。EDAX能譜儀已廣泛應用于國內外各種型號的掃描電鏡和透射電鏡，并且可以同EDAX公司的OIM（電子背散射衍射取向成像分析系統）和ACT（自動晶體學分析系統）構成一體化分析系統，可以實現能譜、波譜、EDSD三元一體化。
技術參數
Apollo X / XL(Standard SDD)
1. 探測器：
a.有效晶體面積：10mm2，30mm2
b.FET配置：集成于SDD芯片內
c.分辨率：優于127eV，分辨率測試條件：100,000CPS
d.技術特點：可工作于更短的時間常數(AmpTime)或更高的計數率而分辨率不下降
適應對象：幾乎所有SEM，鎢燈絲或場發射。性能良好，可以滿足所有常規分析需要，性價比高。
2. 數字脈沖處理電子學 ：這是能譜采集與數字化處理的核心，Genesis Apex采用專門為SDD能譜探測器設計的DPP III數字脈沖處理系統，可處理的最大輸入計數率從500,000CPS提高到> 1,000,000CPS，輸出計數率從100,000CPS提高到350,000CPS。
產品特點
1. 最新設計的探頭，能保證輕元素端有更好的分辨率。
2. 設計的DPP III數字脈沖處理系統，可處理的最大輸入計數率從500,000CPS提高到> 1,000,000CPS，輸出計數率從100,000CPS提高到350,000CPS。
3． 增強的Genesis 6 分析軟件：保留Genesis原來的特點，如HPD可見峰剝離、SEC因子提高輕元素的定量分析精度、全譜面分布和元素偵探器(Element Detective)、ViP低真空分析校正等外，新增強的功能包括：
ü EXpert ID——元素識別的一個創新性的新標準，她克服了傳統的“基于規則”的峰識別技術準確識別重疊峰或弱小能譜峰的困難，運用了譜線之間物理關聯的高級理念，同時結合傳統的規則邏輯算法，就象一個物理專家一樣幫助您進行復雜的峰識別，從而確保Peak ID的準確性。
SnapShot: 按照用戶自定義的時間間隔自動采集能譜來研究電子束與試樣的相互作用；
ü 自動時間常數Auto：根據實驗條件自動選取最價時間常數.
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