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產品簡介
GENESIS XM系列能譜儀使用EDAX公司著名的SAPPHIRETM系列液氮制冷型能譜探測器。
GENESIS XM系列能譜儀是高性能能譜儀的代表，其秉承了EDAX公司PHOENIX能譜儀指標高、性能好、壽命長，使用方便的特點，并更上一層樓。
EDAX能譜儀已廣泛應用于國內外各種型號的掃描電鏡和透射電鏡，并且可以同EDAX公司的OIM（電子背散射衍射取向成像分析系統）和ACT（自動晶體學分析系統）構成一體化分析系統。
技術參數
1.探頭分辨率優于129eV，峰背比優于20000:1
2.檢測元素范圍Be4 - Es99
3.最大計數率500,000cps
4.最大圖象采集分辨率8192x6400象素（矩形）；8192x8192像素（方形）
5.最大面分布圖采集分辨率2048x1600象素（矩形）；2048x2048（方形）
產品特點
1.探頭指標高，性能好，壽命長。
2.全新32位軟硬件系統，工作可靠，效率高。
3.具有操作引導的集成式界面，使用直觀方便。
4.具有多種專有技術軟件，分析精度高。
5.軟件種類及功能豐富，且具有報告生成系統。
