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產(chǎn)品簡介
JSX-3400R環(huán)境分析用元素分析儀、應(yīng)對EU（歐盟）電器及電子設(shè)備廢料回收（WEEE）和特定有害物質(zhì)的使用限制（RoHS）指令。
采用新式光學系統(tǒng)（正在申請專利）、高能X射線發(fā)生源、高分解能探測器，可以檢測塑料、包裝材料、顏料中鎘（Cd）、鉛（Pb）、水銀（Hg）、鉻（Cr）等特定有害物質(zhì)和砷（As）等有毒物質(zhì)，檢測精度達到ppm數(shù)量級。
塑料中極微量的鎘的分析精度達到5ppm，標準試樣的分析精度達到2ppm（日本電子（株）應(yīng)用研究中心測量值）。搭載環(huán)境分析用軟件，從檢測、分析到判斷是否合格只需單鍵就可實現(xiàn)，操作簡單，非常適合檢測機關(guān)、質(zhì)保部門使用。
產(chǎn)品參數(shù)
1.檢測元素范圍 Na--U。
2.X射線發(fā)生裝置5-50kV,10mA,50W，靶Rh。
3.分辨率149ev。
4.試樣艙300mm直徑X150mm高。
5.電腦操作Windows2000,標配軟件。
(有液氮制冷和電制冷兩種）
產(chǎn)品特點
1.一次性分析微量的Cd,Hg,Cr
2.分析速度快Cd40ppm 10sec.10ppm,2min.
3.單鍵完成操作。
4.配備環(huán)境分析軟件
5.靈敏度高，能做100kcps測定
